

簡要描述:Chroma 3280 測試分類機為所有的SD卡類產(chǎn)品帶來了一 個創(chuàng)新的測試方法,而這高效率的測試方法也為 客戶帶來大幅降低生產(chǎn)成本的好處。此外,小機 臺的設(shè)計更可節(jié)省機臺于測試廠之占地面積。整合了測試機臺與自動分類機的功 能,并采用創(chuàng)新的設(shè)計,滿足采用KGD生產(chǎn)的SD 卡類產(chǎn)品的測試需求,不論是在機臺的成本或是 體積上,都比傳統(tǒng)的測試機臺來的大幅降低,因 此也就能夠相對地大幅降低測試的成本。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | Chroma/致茂 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,道路/軌道/船舶 |
Chroma 3280 測試分類機為所有的SD卡類產(chǎn)品帶來了一 個創(chuàng)新的測試方法,而這高效率的測試方法也為 客戶帶來大幅降低生產(chǎn)成本的好處。此外,小機 臺的設(shè)計更可節(jié)省機臺于測試廠之占地面積。整合了測試機臺與自動分類機的功 能,并采用創(chuàng)新的設(shè)計,滿足采用KGD生產(chǎn)的SD 卡類產(chǎn)品的測試需求,不論是在機臺的成本或是 體積上,都比傳統(tǒng)的測試機臺來的大幅降低,因 此也就能夠相對地大幅降低測試的成本。
SD卡類制造商了解在SD卡的制程 中必須采用Known Good Die(KGD)來進(jìn)行生產(chǎn)。 其主要的原因,乃是因為采用KGD生產(chǎn)的SD卡類 產(chǎn)品,將可減少在成品測試中對于測試項目的要 求,只需針對成品封裝過程中所可能產(chǎn)生的瑕疵 進(jìn)行檢測,而不需要再對整個晶片進(jìn)行完整的測 試。

Chroma 3280 測試分類機的特色:
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