
當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 半導(dǎo)體/IC測(cè)試解決方案 > IC測(cè)試分類機(jī) > Chroma 3270 IC測(cè)試分類機(jī)

簡(jiǎn)要描述:Chroma 3270 微型IC測(cè)試分類機(jī)是一款創(chuàng)新的微型 IC 測(cè)試分類機(jī),特別適合 CMOS 影像感應(yīng)組件 (CIS : CMOS Image Sensor) 量產(chǎn)所需,Chroma 3270 可配合多種不同的封裝類型包括傳統(tǒng)的QFP、TQFP、 μBGA、PGA及CSP封裝。Chroma 3270 采用 Pick & Place 技術(shù),可從JEDEC夾盤來(lái)拾取IC,移動(dòng)到測(cè)試位置,然后將測(cè)試
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | Chroma/致茂 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,道路/軌道/船舶 |
Chroma 3270 微型IC測(cè)試分類機(jī)是一款創(chuàng)新的微型 IC 測(cè)試分類機(jī),特別適合 CMOS 影像感應(yīng)組件 (CIS : CMOS Image Sensor) 量產(chǎn)所需,Chroma 3270 可配合多種不同的封裝類型包括傳統(tǒng)的QFP、TQFP、 μBGA、PGA及CSP封裝。Chroma 3270 采用 Pick & Place 技術(shù),可從JEDEC夾盤來(lái)拾取IC,移動(dòng)到測(cè)試位置,然后將測(cè)試后產(chǎn)品置于適當(dāng)之 Tray 盤。
Chroma 3270 能同時(shí)處理32個(gè)待測(cè)物進(jìn)行平行測(cè)試,并提供50?C~125?C高溫測(cè)試選擇。不但能提高產(chǎn)量,提升生產(chǎn)良率,同時(shí)大幅降低測(cè)試成本。

Chroma 3270 微型IC測(cè)試分類機(jī)的特色:
產(chǎn)品咨詢

微信掃一掃