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Chroma 3160C 三溫四站終端測試分類機是一臺可提供大量且多個IC測試的分類機。該設備可提供多種封裝方試的IC測試，且支持1/2/4 sites的測試需求。另外，由于可靠的機構及功能設計，也讓該設備能提供更高的產出及降低設備當機率，3160-C能更有效提升生產力并縮短更換kit部件的時間，且主動式溫控系統 （ATC）更可提供待測物-55°C to 150°C的測試環境。

Chroma 3160 終端測試分類機是一系列適合量產、高產出、多平行測試站點的高速IC測試分類機。此系列分類機運用Pick & Place技術，能夠配合多種封裝類型并按照測試結果將它們排序分類予分料盤中。其高效率的模組化設計與精準的機構傳動結構可確保在高速運作下，機臺量測之重復性，并有助于增加機臺使用之穩定性與維護之便利性。此外，其簡潔的機臺設計更可節省機臺于測試廠之占地面積，幫助客戶大幅降低

Chroma 3112 晶片測試分類機其高效率的模組化設計與精準的機構傳動 結構可確保在高速運作下減少Jam Rate的量產要 求，多重檢查功能裝置可降低待測物發生異常的 損壞。

Chroma 3111 桌上型單站測試分類機具備遠端功能可于任何地點 透過網路連接方式進行控制，3111可用軟體設 定JEDEC料盤的分配以及進行工程測試，在60公 分平方的空間里發揮大的效用以節省時間和成 本，簡易操作的系統介面（Windows™）提供一各 快速且容易的設定方式，可簡化流程并提高效率。

Chroma 3110-FT 三溫測試分類機 三溫 測試分類機同時包含預溫區，可改善測試時間及產出;配有2個自動分料盤及2個手動分料盤，在僅1.4平方米的空間發揮的IC分料能力以節省成本與時間。

Chroma 3110 雙用單站測試分類機 3110 不 但適用于系統功能檢測，也同時具備終端電性測 試的能力?？删C合各元件的整體效能并執行測試 系統上的所有測試程式，旨在提供一個全能的解 決方案。